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    題名: 製程能力指標SPK的信賴下限
    The Lower Confidence Limit on Process Capability Index SPK
    作者: 王耀廷
    Wang, Yao-Ting
    貢獻者: 工業工程與管理系
    關鍵詞: SPK;信賴下限;蒙地卡羅模擬法;涵蓋率
    SPK;lower limit of confidence;Monte Carlo simulation;coverage percentage
    日期: 2005
    上傳時間: 2008-10-06 13:31:07 (UTC+8)
    摘要: 品質指標SPK與良率有一對一的數學關係，可以充分的反應製程良率。然而，由於其估計量的分配函數相當複雜，因此很難推導出指標的1－α信賴下限。若直接以指標的點估計量來衡量製程之品質，則因為抽樣誤差的關係，會有錯估製程能力的機會。由於指標SPK是單邊規格CPU與CPL的函數，因此本文利用這兩個單邊規格指標的信賴下限來推導出SPK的信賴下限CS，並以蒙地卡羅模擬法來評估涵蓋率(coverage percentage)驗證本方法的正確性。如此產業界便可應用指標SPK的信賴下限，來評估或檢定製程是否達到所需要的品質水準。
    顯示於類別:[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】博碩士論文

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