應用六標準差之MAIC流程改善改善TFT-LCD 面板之製程品質

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題名:	應用六標準差之MAIC流程改善改善TFT-LCD 面板之製程品質 Appling MAIC procedure of Six Sigma to enhance process quality of TFT-LCD panels
作者:	王靖欣 Wang, C.H.
貢獻者:	工業工程與管理系
關鍵詞:	TFT-LCD面板製程;六標準差;製程能力弱度指標(Cpp);管製圖 The process of LCD panels;Six Sigma;process incapability index;control chart.
日期:	2005
上傳時間:	2008-10-06 13:31:12 (UTC+8)
摘要:	顯示器(Display)是資訊科技時代人們傳遞訊息與相互溝通的重要界面，而顯示器的發展逐漸由大體積的的陰極射線管(CRT)，轉型為較為輕薄的液晶平面顯示器(LCD)，其中TFT-LCD具有輕、薄、體積小及低耗電量的優點，所以廣泛的應用於日常生活的電子商品上，因此TFT-LCD面板的需求日益增加；而隨著台灣面板產業的產品生命週期逐漸趨於成熟，加上面對韓國與日本的激烈競爭下，持續降低成本是當前各面板廠商全力追求的課題，因此若是能提升TFT-LCD面板產品品質及良率，就能減少不良品與成本的浪費。所以本文將針對TFT-LCD面板探討其製造流程整理出5個重要的品質特性製程，並利用六標準差和製程能力弱度指標(Cpp)之評估模式以及運用工業統計的方法，找出影響TFT-LCD面板品質不佳之重要品質特性製程，同時分析造成品質不佳的原因，再以工業實驗設計探討最佳的製程水準並以管制圖監控製程品質，希望藉由六標準差之MAIC流程持續改善TFT-LCD面板的製程品質，以協助業者提升TFT-LCD面板產品品質，進而達到6標準差品質水準的目標。
顯示於類別:	[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】博碩士論文

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