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    題名: TFT缺陷檢查之高亮度LED燈箱
    High Illumination LED Light-Box System for TFT-LCD Defects Checking
    作者: 蘇啟瑞
    suere
    貢獻者: 電子工程系
    關鍵詞: 缺陷檢測
    macro
    日期: 2008
    上傳時間: 2008-10-06 14:23:27 (UTC+8)
    摘要: 本論文旨在研究TFT-LCD薄膜電晶體液晶顯示器(Thin-Film Transistor Liquid-Crystal Display; TFT-LCD)中之彩色濾光片（Color Filter）缺陷檢查設備巨觀檢查機(Macro Inspector)所使用的光源系統，藉研究系統對稱式LED之設計與驗證做一系列的探討。首先，介紹巨觀檢查機規範的種類及光強度需求，在符合大尺寸G6 (1850mm X 1500mm)以上的彩色濾光片[1]生產廠商使用條件下，設計巨觀檢查機的缺陷檢測光源燈箱系統。
    巨觀檢查機是利用光源的透射及反射時會讓玻璃上異物、缺陷等瑕疵容易由人眼看到。由於使用光源的色溫不同可以分別檢出玻璃的不同缺陷，目前業界通常使用螢光燈、低壓鈉燈、強光燈及綠燈對於玻璃作光線的透射或反射達到讓玻璃缺陷容易由人眼檢視出。研究其中反射式檢查光源之應用，透過高亮度LED燈、過濾鏡、燈箱模組化等元件設計而構成新的光源系統用來簡化檢查設備使用光源的種類及增加操作光源切換方便性。
    顯示於類別:[電子工程系(所)] 【電子工程系所】博碩士論文

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