勤益科大機構典藏:Item 987654321/1664
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    题名: Integrated process capability analysis with an application in backlight module
    作者: Huang, M.L.;Chen, K.S.;Hung, Y.H.
    日期: 2002
    上传时间: 2008-10-19
    關聯: Microelectronics Reliability, 42, 2009-2014
    显示于类别:[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文

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