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    題名: Testing process capability for one-sided specification limit with application to the voltage level translator
    作者: Lin, P.-C.;Pearn, W.L.
    日期: 2002
    上傳時間: 2009-03-08 22:53:53 (UTC+8)
    關聯: Microelectronics Reliability, 42(12), 1975-1983
    顯示於類別:[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文

    文件中的檔案:

    檔案 描述 大小格式瀏覽次數
    2002-testing process capability for one-sided specification limit with application to the voltage.pdf130KbAdobe PDF4989檢視/開啟


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