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    題名: Capability Testing Based on Subsamples: A Case on Photolithography Process Control in Wafer Fabrication.
    作者: 康鶴耀
    貢獻者: 工業工程與管理系(所)
    日期: 2010
    上傳時間: 2013-06-24 13:40:55 (UTC+8)
    出版者: [Philadelphia, American Society for Testing and Materials]
    關聯: Journal of Testing and Evaluation, 38(2)
    顯示於類別:[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文

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