可應用於RFID之多功能循環冗餘檢查碼晶片設計

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題名:	可應用於RFID之多功能循環冗餘檢查碼晶片設計
作者:	洪翰均洪玉城
貢獻者:	電子工程系
關鍵詞:	Modulation 循環冗餘檢查碼無線射頻辨識系統曼徹斯特碼調變
日期:	2010-07
上傳時間:	2013-08-02 15:05:42 (UTC+8)
出版者:	台中;國立勤益科技大學
摘要:	本論文提出三種改良型循環冗餘檢查碼(Cyclic Redundancy Check, CRC)電路；第一種電路，我們使用兩組硬體同時處理輸入資料及平行傳輸的概念以改善傳統串列CRC電路架構之速度。在此研究中，我們使用兩組硬體及開關切換電路以提升整體電路運作速度，並具體實現為CMOS晶片。第二種電路，我們設計具有多種模式運作功能之CRC電路，此設計具有可切換CRC-4、CRC-5、CRC-8及CRC-16四種產生多項式。第三種電路設計，CRC電路為並行架構以提升資料處理速度，並設計多組開關切換電路，改善原文獻電路不能處理任意位元資料的缺點。最後，我們整合RFID系統內部各式資料處理電路，包含一個具有可切換產生多項式(Generator Polynomials)之CRC偵錯電路、具有Manchester與Miller編碼功能之編碼電路、及具有ASK (Amplitude-Shift Keying) 與FSK ( Frequency-Shift Keying) 調變功能電路，整合成為一個功能完整的RFID資料處理系統。本論文所用的製程為TSMC 0.18 μm CMOS 1.8/3.3V製程，整體電路整合後經模擬可順利運作於200 MHz，最低操作電壓為0.9 V，電路平均功率消耗為90 μW。
顯示於類別:	[電子工程系(所)] 【電子工程系所】博碩士論文

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