勤益科大機構典藏:Item 987654321/4976
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    题名: 疊紋技術與印章辨識
    作者: 林仁德
    賴雲龍
    贡献者: 電子工程系
    关键词: 影像處理
    陰影疊紋
    印章辨識
    SVM
    日期: 2011
    上传时间: 2013-08-05 13:10:11 (UTC+8)
    出版者: 台中;國立勤益科技大學
    摘要: 隨著時代的演變,商業活動的蓬勃發展,使得印章的使用量大增,導致傳統的人工驗證機制無法負荷,自動印章辨識技術自然因應而生。現行的印章辨識技術都只針對印文的部分做辨識,但由於照相刻版技術的成熟發展,使得盜刻印章不再是難事。本文提出一個自動印章辨識方法,並且將印章外殼的3D部分也納入辨識的範圍,以增加盜刻印章的難度。在外殼的部分使用陰影疊紋技術來完成,以非接觸方式來快速建置印章的3D資訊,其架設方式簡易且不需昂貴的設備。同時在刻字的部分利用三角菱鏡的全反射特性來取得前所未有的清晰圖像。最後所得到的圖像經由簡單的影像處理以取得特徵序列,再利用SVM的分類特性來做為判斷印章真偽的方法。
    显示于类别:[電子工程系(所)] 【電子工程系所】博碩士論文

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