自我修復進位選擇加法器設計研究

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題名:	自我修復進位選擇加法器設計研究
作者:	陳威誠謝韶徽
貢獻者:	電子工程系
關鍵詞:	進位選擇加法器自我修復錯誤涵蓋率
日期:	2011
上傳時間:	2013-08-05 13:36:43 (UTC+8)
出版者:	台中;國立勤益科技大學
摘要:	本文提出一個擁有完全自我檢查以及自我修復功能的進位選擇加法器架構，此架構能夠在正常運作時即時的偵測任何電路上的單一固著錯誤，並加以修復，所提出的電路針對修復的方法選擇了一個較低成本的修復方式，是在 N個2-bit功能電路中加入ㄧ個備用的電路(2-bit)，有效的減少電晶體的使用量，且提出新的電路提高先前文獻錯誤涵蓋率不足的問題，並且由TSMC 0.18μm製程技術的模擬以證實本篇論文所提出的電路架構擁有高可靠度。　　本文提出的自我修復進位選擇加法器，在偵測單元的錯誤涵蓋率上比 [8]高了11%且比[5]高了27%，然而，提高電路錯誤涵蓋率雖使電路面積上升，但使用本篇所提出的修復方法，能使面積有效的降低，在10-bit的進位選擇加法器中加入ㄧ個備份電路(2-bit)時，電晶體數比[10]節省了11.13%，本文也提出一新的檢查器，其功率在TSMC 0.18μm 1.8V 800MHz下模擬比原檢查器節省了93.2%的功率，且能在0.9V超作電壓下工作在1.6GHz。
顯示於類別:	[電子工程系(所)] 【電子工程系所】博碩士論文

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