應用約略集分析半導體測試廠測試異常問題

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題名:	應用約略集分析半導體測試廠測試異常問題
作者:	柯惠庭楊旭豪
貢獻者:	工業工程與管理系
關鍵詞:	快策規則約略集 IC測試屬性化簡
日期:	2010
上傳時間:	2013-08-13 15:18:23 (UTC+8)
出版者:	台中;國立勤益科技大學
摘要:	半導體(Integrated Circuits; IC)產品製造過程包含電路設計、光罩製作、晶片製造、與晶片封裝等，最後為終段測試完成整個製造過程，以供終端消費者使用。因此測試製程良率的提升，影響半導體產品的產出率極為深遠。而IC產品在製造過程中欲到達100%的良率極為困難，因此IC在正式投產前，通常要先進行測試以確定IC功能的正常與完整，以降低成本的損失。本研究以國內某半導體晶圓測試廠為研究對象，根據2009年的測試異常資料，應用約略集（Rough Set）理論來分析異常處置的重要屬性，並產生決策規則，以幫助企業異常處置的參考，並降低處理異常時間。為了應用約略集理論，綜合現場人員意見，我們選擇了10個條件屬性與1個決策屬性，並根據處理異常最常被採用的方式，將決策屬性分為四類，應用約略集理論後，我們得到3個屬性化簡集合，並取其交集後得到6個核屬性項目。而該核屬性計算分類的品質為0.8292，與全屬性的分類品質0.8361比較，核屬性的分類品質依然保有近似原來的分類效果。經與單位主管討論其6個核屬性項目裡，除了1項外其餘5項確實為異常處置時的重要判斷因子，就實際作業而言，此屬性項目並非處置判斷的重要項目，但確實為日後配件維修的重要責任單位。本研究說明利用約略集理論所分析出來的重要屬性，確實能協助異常處理判別，亦找出隱藏在資料背後中重要的屬性項目。
顯示於類別:	[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】博碩士論文

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