English
| 正體中文 |
简体中文
|
全文筆數/總筆數 : 2928/5721 (51%)
造訪人次 : 376492 線上人數 : 214
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by
NTU Library IR team.
搜尋範圍
全部NCUTIR
通識教育學院
人文創意學院
工程學院
管理學院
電資學院
其他校內單位
技術研究中心
查詢小技巧:
您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
進階搜尋
主頁
‧
登入
‧
上傳
‧
說明
‧
關於NCUTIR
‧
管理
勤益科大機構典藏
>
作者相關文件
資料載入中.....
類別瀏覽
正在載入社群分類, 請稍候....
年代瀏覽
正在載入年代分類, 請稍候....
"Pearn, W.L."的相關文件
回到依作者瀏覽
顯示 26 項.
類別
日期
題名
作者
檔案
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
1995
Estimating process capability indices for non-normal Pearsonian populations
Pearn, W.L.
;
Chen, K.S.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
1996
A Bayesian-like estimator of Cpk
Pearn, W.L.
;
Chen, K.S.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
1997
Capability indices for non-normal distributions with an application in electrolytic capacitor manufacturing
Pearn, W.L.
;
Chen, K.S.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
1997
A practical implementation of the process capability index Cpk
Pearn, W.L.
;
Chen, K.S.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
1997
An application of non-normal Process capability indices
Chen, K.S.
;
Pearn, W.L.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
1997
Multi-process performance analysis: a case study
Pearn, W.L.
;
Chen, K.S.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
1998
Distributional and inferential properties of the process accuracy and process precision indices
Pearn, W.L.
;
Lin, G.H.
;
Chen, K.S.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
1998
New generalization of the process capability index Cpk
Pearn, W.L.
;
Chen, K.S.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
1999
Making decisions in assessing process capability index Cpk
Pearn, W.L.
;
Chen, K.S.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
1999
A generalization of Clements' method for non-normal Pearsonian processes with asymmetric tolerances
Pearn, W.L.
;
Chen, K.S.
;
Lin, G.H.
[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文
1999
A new generalization of Cpm for processes with asymmetric tolerances
Chen, K.-S.
;
Pearn, W.L.
;
Lin, P.-C.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
1999
A new generalization of Cpm for processes with asymmetric tolerances
Chen, K.S.
;
Pearn, W.L.
;
Lin, P.C.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
2001
Testing process capability using the index Cpmk with an application
Pearn, W.L.
;
Yang, S.L.
;
Chen, K.S.
;
Lin, P.C.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
2001
Estimating process capability index C”pmk asymmetric tolerances: distributional properties
Pearn, W.L.
;
Lin, P.C.
;
Chen, K.S.
[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文
2001
Testing process capability using the index Cpmk with an application
Pearn, W.L.
;
Yang, S.-L.
;
Chen, K.-S.
;
Lin, P.-C.
[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文
2001
Estimating process capability index C”pmk for asymmetric tolerances: Distributional properties
Pearn, W.L.
;
Lin, P.-C.
;
Chen, K.-S.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
2001
Capability indices for processes with asymmetric tolerances
Chen, K.S.
;
Pearn, W.L.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
2002
Testing process performance based on the yield: an application to the liquid-crystal display module
Chen, Jann-Pygn
;
Pearn, W.L.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
2002
One-sided capability indices Cpu and Cpl: decision making with sample information
Pearn, W.L.
;
Chen, K.S.
[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文
2002
Testing process capability for one-sided specification limit with application to the voltage level translator
Lin, P.-C.
;
Pearn, W.L.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
2002
A Practical Implementation of the Incapability Index Cpp
Pearn, W.L.
;
Chen, K.L.
;
Chen, K.S.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
2003
Capability Measures For processes With Multiple Characteristics
Chen, K.S.
;
Pearn, W.L.
;
Lin, P.C.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
2003
Distributional properties and implications of the estimated process incapability index
Lin, P.C.
;
Pearn, W.L.
;
Chen, K. S.
[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文
2004
The C”pk index for asymmetric tolerances: Implications and inference
Pearn, W.L.
;
Lin, P.C.
;
Chen, K.S.
[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文
2004
The C”pk index for asymmetric tolerances: Implications and inference
Pearn, W.L.
;
Lin, P.-C.
;
Chen, K.-S.
[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文
2004
Testing process performance based on capability indexCpk with critical values
Pearn, W.L.
;
Lin, P.-C.
DSpace Software
Copyright © 2002-2004
MIT
&
Hewlett-Packard
/
Enhanced by
NTU Library IR team
Copyright ©
-
回饋