六標準差應用於提升TFT良率之實證研究

NCUTIR > College of Management > Development of Industrial Engineering and Management > 【工業工程與管理系所】博碩士論文 > Item 987654321/1305

Please use this identifier to cite or link to this item: http://ir.lib.ncut.edu.tw/handle/987654321/1305

Title:	六標準差應用於提升TFT良率之實證研究 The research of using Six Sigma methodology in practical application－A case study on TFT yield improvement
Authors:	林泰佑 Lin, Tai-You
Contributors:	工業工程與管理系
Keywords:	薄膜型液晶顯示器;六標準差;TFT 良率提昇;模組組裝製程 TFT-LCD;Six-Sigma;DMAIC
Date:	2007
Issue Date:	2008-10-06 13:32:12 (UTC+8)
Abstract:	六標準差（6-Sigma）用來代表空前的高效率標準，在統計上的定義為即每百萬個產品裡，劣質品的發生率將低於3點4個，其基本精神在於持續改善及消除變異，目標在減少浪費、改善效率以及節省成本。本研究使用六標準差改善手法來實地應用在薄膜型液晶顯示器（TFT-LCD）產業上，使用DMAIC改善流程，即定義（Define）、衡量（Measure）、分析（Analyze）、改善（Improve）和控制（Control）五大步驟，來提昇TFT-LCD面板的製程品質及良率，透過六標準差手法對模組（Module）組裝製程，進行一連串的TFT一次檢查良率之改善研究，提出一個明確且可行的具體例證。
Appears in Collections:	[Development of Industrial Engineering and Management] 【工業工程與管理系所】博碩士論文

Files in This Item:

File	Size	Format
	0Kb	Unknown	1420	View/Open