六標準差應用於提升TFT良率之實證研究

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题名:	六標準差應用於提升TFT良率之實證研究 The research of using Six Sigma methodology in practical application－A case study on TFT yield improvement
作者:	林泰佑 Lin, Tai-You
贡献者:	工業工程與管理系
关键词:	薄膜型液晶顯示器;六標準差;TFT 良率提昇;模組組裝製程 TFT-LCD;Six-Sigma;DMAIC
日期:	2007
上传时间:	2008-10-06 13:32:12 (UTC+8)
摘要:	六標準差（6-Sigma）用來代表空前的高效率標準，在統計上的定義為即每百萬個產品裡，劣質品的發生率將低於3點4個，其基本精神在於持續改善及消除變異，目標在減少浪費、改善效率以及節省成本。本研究使用六標準差改善手法來實地應用在薄膜型液晶顯示器（TFT-LCD）產業上，使用DMAIC改善流程，即定義（Define）、衡量（Measure）、分析（Analyze）、改善（Improve）和控制（Control）五大步驟，來提昇TFT-LCD面板的製程品質及良率，透過六標準差手法對模組（Module）組裝製程，進行一連串的TFT一次檢查良率之改善研究，提出一個明確且可行的具體例證。
显示于类别:	[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】博碩士論文

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