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    題名: Statistical testing for assessing the performance of lifetime index of electronic components with exponential distribution
    作者: Tong, Lee-Ing;Chen, K.S.;Chen, H.T.
    日期: 2002
    上傳時間: 2009-02-04 13:11:36 (UTC+8)
    關聯: International Journal of Quality & Reliability Management, 19(7), 812-824
    顯示於類別:[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】期刊論文

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    陳坤盛 J24.pdf103KbAdobe PDF3932檢視/開啟


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