English  |  正體中文  |  简体中文  |  全文筆數/總筆數 : 2928/5721 (51%)
造訪人次 : 376266      線上人數 : 976
RC Version 6.0 © Powered By DSPACE, MIT. Enhanced by NTU Library IR team.
搜尋範圍 查詢小技巧:
  • 您可在西文檢索詞彙前後加上"雙引號",以獲取較精準的檢索結果
  • 若欲以作者姓名搜尋,建議至進階搜尋限定作者欄位,可獲得較完整資料
  • 進階搜尋


    請使用永久網址來引用或連結此文件: http://ir.lib.ncut.edu.tw/handle/987654321/5486


    題名: 六標準差應用於觸控式面版之製程能力改善
    作者: 董琦閔
    陳水湶
    貢獻者: 工業工程與管理系
    關鍵詞: 田口品質
    六標準差
    觸控式面版
    製程能力分析
    日期: 2010
    上傳時間: 2013-08-13 15:30:37 (UTC+8)
    出版者: 台中;國立勤益科技大學
    摘要: 近年來觸控式面板(Touch Panel)已迅速的蓬勃發展,漸漸成為現今電子業之主流,其優點在於低生產成本與高價格。但複雜的鍍膜製程過程中,充滿著許多生產參數組合,尤其在重要性的各站鍍膜製程中,更成為相當重要的課題。由於鍍膜技術製程結合了溫度、氣體流量、功率等程序,所以變因繁多,因此生產製造環境中充滿著製程變異與交互作用,鍍膜製程乃為最終產品的品質及降低生產成本之重要製程。

    本研究為解決於鍍膜製程中所發生的電性不良現象,運用六標準差手法改善步驟DMAIC等五大步驟,以某面板工廠進行實證研究,建構鍍膜製程能力之改善與預測製程最佳化模式,研究方法結合田口品質工程的參數設計方法而探討鍍膜製程參數最佳化,以田口實驗法(Taguchi Method)及配合QC七大手法的推論能力,將量產環境中4個重要因子(真空秒數、破真空秒數、基板與機構間隙、氣體流量)等相關數據資料,探討鍍膜製程參數與Particle之相關性。運用實驗設計及特性要因圖建構一套製程品質管制之衡量標準,以提昇產品鍍膜品質之穩定性。
    此實驗結果驗證本研究所建立之參數最佳化製程無法有效提升鍍膜製程之良率與品質。但是透過特性要因圖的不良因素,針對環境改善後已大大的降低不良率,且有效提升鍍膜製程之良率與品質,及提供實務上提升品質之參考與決策規劃時之參考依據。
    顯示於類別:[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】博碩士論文

    文件中的檔案:

    沒有與此文件相關的檔案.



    在NCUTIR中所有的資料項目都受到原著作權保護.


    DSpace Software Copyright © 2002-2004  MIT &  Hewlett-Packard  /   Enhanced by   NTU Library IR team Copyright ©   - 回饋