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作者
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[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文
2004
The C”pk index for asymmetric tolerances: Implications and inference
Pearn, W.L.
;
Lin, P.-C.
;
Chen, K.-S.
[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文
2004
Testing process performance based on capability indexCpk with critical values
Pearn, W.L.
;
Lin, P.-C.
[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文
2002
Testing process capability for one-sided specification limit with application to the voltage level translator
Lin, P.-C.
;
Pearn, W.L.
[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文
2001
Testing process capability using the index Cpmk with an application
Pearn, W.L.
;
Yang, S.-L.
;
Chen, K.-S.
;
Lin, P.-C.
[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文
2001
Estimating process capability index C”pmk for asymmetric tolerances: Distributional properties
Pearn, W.L.
;
Lin, P.-C.
;
Chen, K.-S.
[通識教育中心] 【通識教育中心】期刊論文
1999
A new generalization of Cpm for processes with asymmetric tolerances
Chen, K.-S.
;
Pearn, W.L.
;
Lin, P.-C.
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