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    題名: 六標準差應用於提升TFT良率之實證研究
    The research of using Six Sigma methodology in practical application－A case study on TFT yield improvement
    作者: 林泰佑
    Lin, Tai-You
    貢獻者: 工業工程與管理系
    關鍵詞: 薄膜型液晶顯示器;六標準差;TFT 良率提昇;模組組裝製程
    TFT-LCD;Six-Sigma;DMAIC
    日期: 2007
    上傳時間: 2008-10-06 13:32:12 (UTC+8)
    摘要: 六標準差（6-Sigma）用來代表空前的高效率標準，在統計上的定義為即每百萬個產品裡，劣質品的發生率將低於3點4個，其基本精神在於持續改善及消除變異，目標在減少浪費、改善效率以及節省成本。本研究使用六標準差改善手法來實地應用在薄膜型液晶顯示器（TFT-LCD）產業上，使用DMAIC改善流程，即定義（Define）、衡量（Measure）、分析（Analyze）、改善（Improve）和控制（Control）五大步驟，來提昇TFT-LCD面板的製程品質及良率，透過六標準差手法對模組（Module）組裝製程，進行一連串的TFT一次檢查良率之改善研究，提出一個明確且可行的具體例證。
    顯示於類別:[工業工程與管理系(所)] 【工業工程與管理系所】博碩士論文

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